промышленный конфокальный микроскоп CREATIVE DC100

Смотрите больше, глубже и точнее для вас!
Высокоточное лазерное конфокальное измерение топографии поверхности 3D

Глубоководное темнопольное конфокальное обнаружение подповерхностных дефектов Глубина
подповерхностного обнаружения достигает 100 мкм!

Конфокальный микроскоп DC100 — это новое поколение высококачественных стереомикроскопических измерительных приборов, разработанных компанией Spectrum Sima Instruments, которые могут широко использоваться в области определения шероховатости металла, трещин и других качеств поверхности, полупроводниковых устройств, компонентов MEMS, фотоэлектрических панелей, сверхточных деталей, светодиодного поля трехмерного размера микроструктуры и обнаружения подповерхностных дефектов, расширенного поля оптической обработки оптического профиля поверхности и обнаружения подповерхностных дефектов, Определение характеристик структуры поверхности материалов в области производства материалов и НИОКР.

Объединяет три метода измерения в один

Мультимодальное измерение (опционально)
Комбинируя несколько методов визуализации, таких как конфокальное светлое поле, конфокальное темное поле, 3D истинный цвет и тепловая волна, можно получить более полную информацию о поверхности образца и подповерхностном слое

明场共焦成像
点照明与点探测实现准焦和离焦信号的分离，实现三维成像
采用高灵敏度的共焦峰值定位算法，达到纳米级轴向分辨力

暗场共焦成像
通过环形光整形模块与互补光阑，分离表面反射光和亚表面散射光，获取亚表面缺陷的三维分布信息

三维真彩色成像
沿Z向拍摄样品照片，由清晰程度判断每个像素点的Z位置，获取包含真实色彩的样品形貌数据

Упрощение процесса
измерения Полномасштабная навигация по карте Область, захваченная на
одном снимке, может быть отображена и зафиксирована на карте, что удобно для пользователя при изучении всей картины образца, а щелчок мыши по карте может заставить этап смещения переместить соответствующую область образца к центру экрана

Автофокусировка Функция
автофокусировки микроскопа сводит к минимуму ручную регулировку в процессе измерения, что позволяет быстро и легко получать четкие и хорошо сфокусированные изображения

Простая обработка
изображений и коррекция наклона: решите проблему наклона измеряемой области и сделайте информацию о высоте более точной и четкой

Топографическая фильтрация: отфильтровывание ненормальных точек измерения и уменьшение помех от шума на данные

图像拼接：结合位移台的位置数据，通过图像拼接实现大样品测量

直观图像分析

Типичные сценарии применения Этот микроскоп может быть использован в качестве инструмента наблюдения и анализа для научно-исследовательских отделов и производственных подразделений, а также является идеальным инструментом для помощи в прецизионной микро-нанообработке, производстве полупроводников, исследованиях и разработках и т. д. Он может широко использоваться для морфологического измерения и обнаружения дефектов металлических материалов, интегральных схем, электронных чипов, оптического стекла и т. Д.